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鍍層測(cè)試儀

熒光X線膜厚計(jì)采用中文視窗操作測(cè)量系統(tǒng)解析度0.001µm小測(cè)量面積0.1mmφ可測(cè)量合金層之厚度和組成比例

  • 產(chǎn)品型號(hào)：ts-80
  • 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間：2025-10-25
  • 訪  問  量：11429
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詳細(xì)介紹

鍍層測(cè)試儀特點(diǎn)：

中文視窗操作測(cè)量系統(tǒng)
解析度0．001um， 小測(cè)量面積0．1mmΦ
可測(cè)量合金層之厚度和組成比例
可測(cè)量兩層以上鍍層之個(gè)別厚度
藉由光譜分析可判定被測(cè)物之元素
適用對(duì)象：1C導(dǎo)線架，封裝業(yè)、PCB業(yè)、精密零
件業(yè)、電鍍業(yè)、電子業(yè)。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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